芯片测试实时管控系统(RTM)简介：

在半导体测试领域，生产长期处于黑匣子状态，无法搞清楚生产过程中的情况，缺少专业、有效的手段对生产过程进行监控。芯片测试实时管控系统，采用开源大数据技术引擎和自主研发的测试机台数据采集系统，可在生产过程中实时从机台中采集测试数据，包括TD、Bin、测试项等关键数据。用户可以通过系统定义不同的卡控规则，通过实时数据计算对不同客户、产品、测试程序的Lot或Run进行实时的校验与卡控，在发现制程异常时即时停止设备或报警，极大程度的降低损失。

功能特点：

➢支持1000+机台同时接入，可实现秒级数据采集、处理。

➢自主研发的数据采集系统支持对接主流的测试机，包括93K、Chroma、T2000、T5、I-Flex、U-Flex、P2000等几十种机型。

➢支持与CIM系统对接，实现即时停机。

➢结合业务Know-How设计了常见的卡控规则，支持通过配置的方式进行设定，满足不同的管控需求。

核心价值：

让芯片测试生产过程透明化，在发现制程异常时及时停止设备或报警，极大程度的降低损失。